SuperView W1 光學3D表麵輪廓儀
基本介紹: 主要特點:非接觸式無損檢測,一鍵分析、快(kuài)速 24小時谘詢(xún)熱(rè)線:SuperView W1光學3D表麵輪廓儀是一款用於對各(gè)種精密器件及材料表麵進行亞納米級測量的檢(jiǎn)測儀器(qì)。它是以白光幹涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表(biǎo)麵進行非接觸式掃(sǎo)描並建(jiàn)立表麵3D圖(tú)像,通過係統軟件對器(qì)件表麵(miàn)3D圖像(xiàng)進(jìn)行數據處理與分析,並獲取反映器件表麵質量的2D、3D參(cān)數(shù),從而實現器件表麵形(xíng)貌3D測量的光學檢測儀器。
SuperView W1光學3D表麵輪廓儀可廣泛應用於半導體製造及封裝工藝檢測、3C電子(zǐ)玻璃屏及其精密配件、光學加工、微(wēi)納材料(liào)及製造、汽車零部件(jiàn)、MEMS器件等超精(jīng)密加工行業及航空航天、國防軍工、科研院所等領域中。可測各(gè)類從超光滑到粗糙、低(dī)反射率到高(gāo)反射率的物體表麵,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪(lún)廓、曲率等,提供(gòng)依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300餘種2D、3D參數作為評價標(biāo)準(zhǔn)。
1)係統光源及壽(shòu)命:雙LED光(guāng)源(白光和綠光),10萬小時超長(zhǎng)壽命,終身無需更換;
2)測量模式:垂(chuí)直掃描幹(gàn)涉模式(VSI),相移幹涉(shè)模式(PSI),結合VSI和PSI的自適應通用(yòng)測量模式(USI);
3)多區域自動分析:自動獲取圖(tú)案(àn)化形貌區域的(de)三(sān)維信息(高度、寬度(dù)、麵積、體積、粗(cū)糙度、傾角等(děng)),同(tóng)時具(jù)有自動統計分析功能。
4)具備各種類型樣品表(biǎo)麵微觀形貌(mào)的3D輪廓重建與測量功能;
5)具備表麵粗糙度(dù)和微觀輪廓的檢測功能,粗糙度範圍涵蓋0.1nm到數十微米的級別;
6)具備校平、去除形狀、去噪、濾波等數據處理功能;
7)具備粗(cū)糙度分析、輪廓分析、結構分析、功能分析等表麵參數分析功能;
8)具備自動對焦、自動測量(liàng)、自動多區域測量、自動拚接測量等自(zì)動化功能;
9)具備一(yī)鍵分析、多文件分析等快速、批量分析功能;
10)具備word、excel等數據報表導出功能。
對各種產品、部件和材料表麵的平麵度、粗糙度、波紋度、麵形輪廓、表麵(miàn)缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、台階高度、彎曲變形情況、加工情況等表麵形貌特(tè)征進行(háng)測量和分析。
半導體.拋光矽片、減薄(báo)矽片(piàn)、晶圓IC | |
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3C電子.藍寶石玻璃粗糙度(dù)、手機金屬殼模具瑕疵、手機油墨屏高度差(chà) | |
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超精密加(jiā)工.光學透鏡 | 精密加工.發動機葉片 |
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精密加工.金字塔(tǎ)型金(jīn)剛石磁頭 | 標準樣塊(kuài).單刻(kè)線台階、多刻線粗(cū)糙度 |
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1)采用光學幹涉技(jì)術、精密Z向掃描模塊和(hé)優異的3D重建算法組成測量係統,保證測量精度高;
2)獨特的隔振係統,能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地麵(miàn)振動噪聲和空氣(qì)中聲波振動噪聲,保障儀器在大部分的生產車間環境中能穩定(dìng)使用(yòng),獲得極高的測量重(chóng)複性。
1)測量與分析同界麵操作,無須(xū)切換,測(cè)量(liàng)數據自動統計,實現(xiàn)了快速批量測量的功能(néng);
2)可視化窗口,便於用戶實時觀察掃描過程;
3)幾何分析、粗糙度分析、結(jié)構分析、頻率分析、功能(néng)分析(xī)五大功能模塊齊全;
4)一鍵分(fèn)析、多文件分析(xī),自(zì)由組合分析項保存為分析模(mó)板,批量(liàng)樣品一鍵分析,並(bìng)提供數(shù)據分析與統計圖表功能;
5)可測依據ISO/ASME/EUR/GBT等標準的多(duō)達300餘種2D、3D參數。
集成(chéng)X、Y、Z三個方向位移(yí)調整功能的(de)操縱手柄,可快速完(wán)成載物台(tái)平移(yí)、Z向聚焦、找(zhǎo)條紋等測量前工作。
除(chú)初級的軟件ZSTOP設置Z向位移下限位進行防撞保(bǎo)護外,另(lìng)在Z軸上設計有機械電子傳感器,當鏡頭觸碰到樣品表麵時,儀器自動進入緊急停止(zhǐ)狀態,最大限度的保護儀器,降低人為操作(zuò)風險。
既可以接入客戶現場的穩定氣源也可以接(jiē)入標配靜音空壓機,在無外接氣源的條(tiáo)件下(xià)也可穩定工作。
複合材料測(cè)量 | 水機葉片磨損檢測 |
超光滑陶瓷樣件測量 | 超(chāo)疏水表麵形貌檢測 |
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光學(xué)玻璃鏡片樣品測試報告 | 金屬片表麵摩擦磨損樣(yàng)品測試報告 |
石英(yīng)砂樣品測試報告 | 手機(jī)配件樣品測試報告 |
超(chāo)光滑凹麵樣品測試報告 | 薄膜粗糙(cāo)度測試報告 |
微光學器件樣品測試報告 | 微納結構樣品測試報告 |
微透鏡陣列樣品測試報告 |
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