性能優勢（shì）

科研級CMOS檢測器，全元素分析，開創PPM級元素分析新紀元

噪聲（shēng）低 科研級感光元件噪聲小，抗幹擾強，具備防光暈技術

抗幹擾 CMOS探測器集成度高（gāo），可避免（miǎn）外部電路引（yǐn）入噪聲

讀取速（sù）度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術，像（xiàng）素信號單獨讀取，實現參數優化設計

紫外響應高 超高紫外響應靈敏度（dù），無需鍍膜，實現非金屬元素（N,C,S,P）分析，效（xiào）果更優

經典雙光室（shì）設計，光（guāng）譜範圍寬（kuān），元素分辨率（lǜ）有保證

獨立設計的紫外光（guāng）學係統，激發台直接采光，專為N，C，S，P等紫外元素測量設計，刻線數多，分辨率高（gāo），兼顧高分（fèn）辨和（hé）譜線範圍優勢，譜線範圍寬，分析元素（sù）多，性（xìng）能好

單獨設計的紫外光學係統，體（tǐ）積小，結構簡單，無死角，采（cǎi）用多（duō）孔吹掃（sǎo）技術，可將空氣（qì）迅速吹掃（sǎo）幹淨，確保元（yuán）素（sù）分析效果

穩定性升級，重新定義光學產（chǎn）品穩定性（xìng）

壓鑄鋁合金整體光室，4級消除應力處理（lǐ）

光室恒溫設計，保證光譜位置長期穩定，不漂移

氣流（liú）路的精確設計（jì），一切為了（le）結果更穩定（dìng）

RTMC光譜優化技術，帶（dài）來更穩定的體驗

全數字脈衝光源，自動選擇能量保證分析的準確性（xìng）與重複性（xìng）

易用（yòng）性升（shēng）級，給用戶更簡單的使（shǐ）用體驗

優質硬件與特定算法的結（jié）合，多重穩定保障，更好地監控儀器運行狀（zhuàng）態，提升（shēng）分析效果，減少校準（zhǔn）頻（pín）率

支持全譜分（fèn）析檢（jiǎn）測，拓（tuò）展（zhǎn）性更高。增加分析基體和元素無（wú）需增加（jiā）硬（yìng）件，通過軟件即（jí）可擴展分（fèn）析範圍，使用更靈活

智（zhì）能曲線功能可滿足對所（suǒ）有（yǒu）材料的分析需求，真正實現未（wèi）知樣品分析，無需糾結模型選（xuǎn）擇（zé），操作更加簡便

友好的人（rén）機交互設計，軟（ruǎn）件主界（jiè）麵簡潔清晰，圖形化顯示，短（duǎn）時間即可學會（huì）並熟練操作軟件（jiàn）

新增遠程維護功能（néng），可遠程升級固件程（chéng）序，遠程（chéng）檢查儀器狀態，對儀器（qì）生命周期健康負責

應用領域

應用於冶金、鑄造、機械（xiè）加工、鑄造、金屬材（cái）料（liào）科研、航空航天、造船、汽（qì）車、海關檢驗、第三方檢測等諸多（duō）領域。